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PCBA及PCB失效分析、制程管控與案例解析高級研修班

  • 開課時間: 2021年11月19日 周五 2021年11月20日 周六 查看最新上課時間
  • 開課城市: 深圳
  • 培訓時長:2天
  •  
  • 課程類別: 生產管理
  • 主講老師:Glen Yang(查看該老師更多課程)
  • 課程編號: 64267
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PCBA及PCB失效分析、制程管控與案例解析高級研修班其它上課時間:

培訓對象:

?電子制造生產企業(yè):從事PCBA及PCB生產/制造/質量分析,PCB客訴窗口工程師、主管、經理,SQE,SQM,DQA,IQC,PQC,FQC,DFM工程師,NPI工程師,以及有志于從事PCBA失效分析的實驗室失效分析人員;

培訓內容:


課程背景:
當前PCBA及PCB的失效分析技術面臨諸多難題,需要工程技術人員具有豐富的現(xiàn)場經驗,掌握PCBA及PCB的生產工藝知識,電子產品電性能技術指標和電路基本原理,實驗分析方法和工具設備的應用方法。PCBA的失效分析包括PCB基板、元器件和焊點三個基本層面,我們通過失效定位、電學分析、形貌分析、切片制樣、表面成分分析及各種應力試驗驗證等技術,診斷產品的失效模式、失效機理和根本原因。通過失效分析,找出產品在設計和制造過程中存在的缺陷,以糾正產品設計、制造、品質標準中的缺陷,降低產品失效,從而提高產品質量及可靠性。
我們通過各種典型案例的缺陷檢測分析、可靠性評價技術,來全面認識日前最主流的電子產品失效分析技術。PCBA及PCB產品的失效問題,歸結起來有設計缺陷,物料(元器件、PCB、輔料)缺陷,制造工藝缺陷,產品使用環(huán)境不當導致的失效問題。
課程特點:
本課程從可靠性保證的基礎理論出發(fā),重點介紹了電子組件常用的可靠性試驗方法和失效分析手段,并從影響電子組件可靠性的主要因素出發(fā),以案例分析和理論分析相結合的方式,重點介紹了電子組件常見問題的可靠性保證和失效分析方法,電子元器件可靠性保證技術。
講師通過對整機系統(tǒng)中常見的設計、制造工藝、元器件等細節(jié)問題引起的故障案例,剖析故障案例的分析方法、失效產生原因、失效的控制方法。針對電子組件在實際使用過程中的失效現(xiàn)象,開展失效機理、失效分析方法和失效案例講解等分析,從而使學員能夠詳細講解了焊點疲勞及過應力失效、黑焊盤失效、電遷移失效、陽極導電絲失效、錫須失效等失效機理,掌握包括顯微外觀檢查、X-ray檢查、C-SAE分析和SEM&EDS等常用分析手段,掌握電子組件的失效分析技術。
課程收益:
1、當前PCBA、PCB和元器件封裝的基本特點和發(fā)展趨勢;
2、電子組件可靠性保證技術和可靠性基;
3、高頻微波PCB電性能概述-材料-工藝-結構-解析;
4、PCB失效分析技術與案例解析;
5、PCBA電化學遷移失效案例解析;
6、掌握表面組裝的無鉛、可制造性及核心工藝;
7、掌握表面組裝中的故障分析模式與改善方法;
8、掌握表面組裝中典型的缺陷裝聯(lián)故障模式分析與對策;
9、掌握表面組裝中引起的上下游工藝質量的關鍵要素;
掌握電子組件常用可靠性試驗方法和失效分析手段,掌握電子組件常見失效模式和失效控制方法,掌握電子組件失效的一般規(guī)律,為實際工作中碰到的失效問題提供解決方法。

課程大綱


本課程將涵蓋以下主題:


前言:PCBA及PCB失效分析面臨的挑戰(zhàn)與解決方法綜述
一、PCBA先進制造技術的基本內容、工藝流程、實施概要和面臨問題
1.1實施先進制造技術的工藝流程和方法;
1.2底部焊端器件(BTC)及微形焊點的工藝特性;
1.3SMT先進制造設備和生產工藝。
1.4PCBA裝聯(lián)的生產流程設計與優(yōu)化
二、電子產品PCBA及PCB、元器件和焊點失效分析的基本原理和工藝技術
2.1失效分析概述、目的和意義;
2.2失效分析的一般原則和一般程序;
2.3電子組件的可靠性及失效機理分析;
2.4電子組件焊點疲勞失效、過應力失效機理;
三、電子組件的耐氣候老化測試技術、失效分析工具和分析方法
3.1電子組件可靠性試驗方法和失效分析手段
電子組件可靠性試驗原理、可靠性試驗方法
溫度循環(huán)試驗、溫低沖擊試驗、機械振動試驗、強度試驗、高溫高濕試驗、鹽霧測試;
3.2電子組件常用失效分析的工具
外觀檢查,X-ray分析,SEM電鏡掃描分析,金相切片分析,紅外熱像分析,EDS表面元素成分析,
四、PCB制造工藝、質量保證技術、制程管控及案例分析
4.1PCB性能規(guī)范及IPC-6012D與C的具體差異
4.2PCB制造工藝及5G高頻微波可靠性要求概述
4.3PCB尺寸穩(wěn)定性、吸水率、耐熱性能Tg\CTE\TD電介常數(shù)、電損要求及評價
4.4PCB焊盤表面處理工藝:ENIG\HASL\OSP\IAg\ISn\不良案例分析及討論
4.5PCB拼板缺陷導致失效案例解析
4.6PCB焊盤形態(tài)及內層走線失效問題
五、PCBA及PCB工藝失效的組裝制程管控技術
5.1PCB制造工藝失效管控方法;
5.2電子器件來料工藝失效管控方法;
5.3PCBA組裝“三大制程”工藝失效管控方法;
5.4PCBA點膠、測試、維修工藝失效管控方法;
5.5PCBA分板和包裝工藝失效管控方法。
六、PCBA組件可靠性綜合試驗方案討論和管控
6.1設計缺陷案例
1)電路原理和PCB版圖設計缺陷案例
2)元裝結構缺陷案例
6.2元器件(零部件)缺陷案例
1)元器件固有機理失效2)元器件常見缺陷案例
6.3制造工藝缺陷案例
1)焊接工藝失效案例2)裝配機械應力失效案例
3)污染及腐蝕失效案例
6.4過電應力失效案例:電壓失效案例,電流失效案例,降額功率失效案例
6.5PCBA焊點疲勞機理、焊點疲勞試驗方法、焊點疲勞失效案例分析及討論
七、PCBA絕緣可靠性保證技術及案例分析
7.1電子組件絕緣失效機理解析
EMI電化學遷移失效機理解析
CAF陽極導電絲失效機理解析
TinWhisker失效機理解析
7.2電子組件表面絕緣阻抗(SIR)可靠性評價方法
免洗助焊劑性能評價方法
PCBA絕緣阻抗新評價方法
電子組件絕緣失效案例解析
7.3“三防”工藝的應用要點及評價方法
八、元件結構、封裝引起的失效案例解析和管控方法
8.1單側引腳連接器開焊,寬平引腳開焊,片式排阻虛焊
8.2QFN虛焊,元件熱變形引起的開焊,BGA焊盤下PCB次表面樹脂開裂
8.3片式元件兩端電鍍尺寸不同引起立碑
8.4陶瓷板塑封模塊焊接時內焊點橋連
8.5BGA角部或心部焊點橋連,F(xiàn)CBGA翹曲
8.6銅柱引線的焊接——焊點斷裂
8.7堆疊封裝焊接造成內部橋連
8.8片式排阻虛焊,手機EMI器件的虛焊,Mic虛焊
8.9晶振內部開裂,連接器沾錫,插裝腳球頭缺陷
8.10單側引腳連接器開焊,寬平引腳開焊,片式排阻虛焊
九、提問、解答與開放式討論

課程主講


GlenYang
SMT制程工藝資深實戰(zhàn)型工程師
PCBA工藝技術質量管理方面專家
擔任PCBA及PCB失效分析實驗室及多家上市公司PCBA事業(yè)部技術顧問,資深講師,廣東省電子學會SMT專委會技術委員。楊先生擅長先進工藝及特殊工藝的實踐應用,解決電子產品整機及PCBA可靠性、可裝配性、可制造性問題,擅長解決高可靠性電子產品耐氣候長壽命老化測試保證技術等問題,擅長提升生產中的實踐經驗,對工藝實現(xiàn)規(guī)范化、標準化和系統(tǒng)化管理。
20年來,楊先生在高科技企業(yè)從事新產品DFM及NPI工藝技術現(xiàn)場管理工作,積累了豐富的現(xiàn)場問題處理、產品設計、失效分析及制程工藝改善的經驗。在PCBA的各種專業(yè)雜志、高端學術會議和報刊上,楊先生已發(fā)表論文45篇近五十萬字。楊先生對SMT生產管理、工藝技術和制程改善方面深有研究,多次在《現(xiàn)代表面貼裝資訊》雜志及相關會議的年度論文評選中獲獎。譬如2012年的“3D階梯模板在SMT特殊制程及器件上的應用技術”獲一等獎,2011年的“如何提高FPT器件在FPC上之組裝良率及可靠性”獲二等獎,2010年的“通孔回流焊技術在混合制程器件上的應用研究”獲三等獎。在近七年的中國電子協(xié)會主辦編輯的“中國高端SMT學術會議論文集”中,楊先生被選入的論文就多達十八篇,是所有入選文章中最多的作者。
楊先生培訓過的企業(yè)有北京奔馳PCBA事業(yè)部\國網南京南瑞集團\山東歌爾聲學電子\深圳創(chuàng)維電視\臻鼎科技FPC\佛山國星光電\東莞新能德電子\惠州藍微電子\惠州信機精機億緯鋰能股份\蘇州中磊電子\東莞臺達電子SMT\TCLSMT事業(yè)部\南京精博電子\上海旭統(tǒng)精密電子\蘇州斯凱菲爾等知名大型企業(yè)內部輔導,多年來同時舉辦了近200場公開課。
擅長課題:《PCBA工藝缺陷診斷分析》、《BGA\QFN\POP倒裝焊系統(tǒng)組裝工藝技術》、《FPC裝聯(lián)工藝及DFX設計》、《新產品導入全面管控技術》、《錫膏印刷工藝技術及材料導入驗證》、《回流焊與通孔回流焊技術解析》、《SMT的DFM(可制造性設計)》、《波峰焊接工藝及制程缺陷診斷分析與解決》、《ESD系統(tǒng)體系建設及評審改善》、《PCBA及PCB失效分析技術、制程管控》、《MSD元件的使用誤區(qū)及管控系統(tǒng)》、《高可靠性產品的特殊焊接要求》、《膠類應用技術及優(yōu)劣勢分析》、《三防點膠工藝的應用技術及誤區(qū)》等!

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